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周立功逻辑分析仪
三环(3H-L)逻辑分析仪
周立功协议分析仪
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逻辑分析仪是一种类似于示波器的波形测试设备,它可以监测硬件电路工作时的逻辑电平(高或低),并加以存储,用图形的方式直观地表达出来,便于用户检测,分析电路设计(硬件设计和软件设计) 中的错误,逻辑分析仪是设计中不可缺少的设备,通过它,可以迅速地定位错误,解决问题,达到事半功倍的效果。
产品图片 |
- L-100-T逻辑分析仪
高性价比的100MHz逻辑分析仪机型,它的特点是带有100MHz实时逻辑示波器,除了逻辑分析仪的标准存储工作方式外,它还具有实时工作方式,可以象在示波器上一样实时观察周期性的信号波形,即接即用,非常方便。
- L-100逻辑分析仪
价格最低的100MHz逻辑分析仪标准机型。
- L-100-VT逻辑分析仪
功能最全的100MHz逻辑分析仪机型,它的特点是既带有100MHz实时逻辑示波器,又带有信号触发电平调节系统,能够支持低电压目标系统的测试工作。
- L-200逻辑分析仪
功能完全的200MHz逻辑分析仪机型,它的特点是既带有200MHz实时逻辑示波器,又带有-2.5V至+4.1V的宽范围信号触发电平调节系统,并具有信号的边沿触发器、脉宽触发器和4级队列信号触发器,同时它的CN1.1输入通道还可以作为逻辑笔使用,非常方便。L-200逻辑分析仪的存储深度为128K。
- L-400逻辑分析仪
L-400 逻辑分析仪具有 L-200逻辑分析仪 的全部功能,在使用400MHz时钟频率采样时,24个输入通道中有16个通道工作在400MHz(存储深度为1M),另外8个通道工作在200MHz(存储深度为512K)。L-400逻辑分析仪 还配有信号总线触发器,能够用24个输入信号中的任意位构成一个不超过16位的二进制总线,并能进行大于、小于、等于、区间内、区间外等运算,产生相应的触发信号。L-400逻辑分析仪还配有条件控制系统,能够按照用户的要求仅存储符合特定条件的信号过程。此外L-400逻辑分析仪具有两个4级触发队列。
- L-800逻辑分析仪
L-800逻辑分析仪 具有 L-400逻辑分析仪 的全部功能,在使用800MHz时钟频率采样时,24个输入通道中有2个通道工作在800MHz(存储深度为2M),另外22个通道工作在400MHz(存储深度为1M)。L-800逻辑分析仪 是一款低价位的高性能逻辑分析仪。
L系列逻辑分析仪主要功能配置一览表
型 号 |
采样频
率(Hz) |
实时示
波器(Hz) |
输入
通道 |
存储
深度 |
数据建
立时间 |
测量
带宽 |
输入
阻抗 |
输入信
号范围 |
信号触
发电平 |
状态
触发器 |
沿触
发器 |
总线
触发器 |
队列
触发器 |
脉宽
触发器 |
功能
计数器 |
条件
跟踪 |
L-100-T |
1~
100M |
100M |
24 |
32K |
16ns |
30MHz |
50KΩ |
0~5V |
TTL
/CMOS |
8组 |
无 |
无 |
无 |
无 |
61bits |
无 |
L-100 |
1~
100M |
无 |
24 |
32K |
16ns |
30MHz |
50KΩ |
0~5V |
TTL
/CMOS |
8组 |
无 |
无 |
无 |
无 |
61bits |
无 |
L-100-VT |
1~
100M |
100M |
24 |
32K |
16ns |
30MHz |
1MΩ |
0~5V |
0~
+3.3V |
8组 |
无 |
无 |
无 |
无 |
61bits |
无 |
L-200 |
1~
200M |
200M |
24 |
128K |
6.1ns |
80MHz |
1MΩ |
-4V~
+6.5V |
-2.5V~
+4.1V |
8组 |
8组 |
无 |
4级 |
(2ns-1h)
×2 |
88bits |
无 |
L-400-A |
1~
400M |
400M |
24 |
1M
(max.) |
3.6ns |
160MHz |
1MΩ |
-4V~
+6.5V |
-2.5V~
+4.1V |
8组 |
8组 |
16bits |
4级×2 |
(2ns-1h)
×2 |
168bits |
512K
×4段 |
L-800-A |
1~
800M |
800M |
24 |
2M
(max.) |
2.3ns |
200MHz |
1MΩ |
-4V~
+6.5V |
-2.5V~
+4.1V |
8组 |
8组 |
16bits |
4级×2 |
(2ns-1h)
×2 |
168bits |
512K
× 4段 |
L系列逻辑分析仪配件表
型 号 |
内 容 |
每台全额配置数量 |
单价(元) |
R-8T-25 |
8通道通用测试端子组件(电缆长25cm) |
3 |
|
R-8F-25 |
8通道同轴电缆组件 |
3 |
|
R-C6 |
精密测试夹,最小测试间距0.6mm,
可测试表贴(SMD)元件 |
27 |
|
R-P75 |
防颤测试探针 |
1 |
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L系列逻辑分析仪标准配置表
型 号 |
标准配套配件 |
L-100-T |
27只精密测试夹 |
1只防颤测试探针 |
3组测试端子组件 |
L-100 |
27只精密测试夹 |
1只防颤测试探针 |
3组测试端子组件 |
L-100-VT |
27只精密测试夹 |
1只防颤测试探针 |
3组测试端子组件 |
L-200 |
27只精密测试夹 |
1只防颤测试探针 |
3组测试端子组件 |
L-400-A |
27只精密测试夹 |
1只防颤测试探针 |
6组测试端子组件 |
L-800-A |
27只精密测试夹 |
1只防颤测试探针 |
6组测试端子组件 |
L系列逻辑分析仪规格 |
外形体积: 99mm×89mm×14mm (长×宽×高)
重 量: 300g
信号通道: 24
信号接口: 2.54mm 高品质锁紧式连接器(触点底层镀镍50μ”,表层镀金30μ”),可选配通用型连接端子。
保护性能: 所有端子可耐受8,000V静电冲击,所有端子可耐受±30V电源冲击。 |
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