产品特性
支持IDE环境
TKStudio,致远公司,中/英文界面,多内核编译/调试环境,强大内置编辑器。
ZlgLogic,致远公司,中/英文界面,逻辑分析仪测试环境,强大内置测试功能。
CCS,TI公司,英文界面,DSP编译调试环境。
Keil,Keil公司,英文界面,8051/251/C166/ARM编译/调试环境。
ADS,ARM公司,英文界面,全ARM内核编译/调试环境。
RealView,ARM公司,英文界面,全ARM内核编译/调试/环境。
IAR,IAR公司,英文界面,多内核编译/调试环境。
AVRStudio,ATMEL公司,英文界面,AVR编译/调试环境。
独创的新概念仿真框架
全面的专业优化设计, 与经典设计相比性能优异,能在应用中达到叹为观止的性能。
采用全新概念的柔性仿真框架, 从容应对当今和未来的MCU仿真测试。
与主流芯片厂商合作,保证使用最佳的仿真技术, 以达到最佳的仿真性能。
经过优化的USB通讯接口, 保证最大2500KB/S的代码下载速度。
内部最大6x512KB(可扩至6x1MB)仿真SRAM空间, 保证几乎全部MCU仿真需求。
内部采用大容量可配置的FPGA技术, 保证无硬件升级的忧虑。
采用AutoVolt技术, 程控步进仿真电压(1.8V-5.5V), 满足全电压范围的芯片仿真。
采用QuickBUS高速总线技术, 可稳定仿真超过80MHz的处理器。
长达600小时运行计数器,并支持时间标签(10ns分辨率)。
内置PLL频率发生器,可以自动产生用户设置的20K-100MHz运行时钟,时间精度为0.001%。
支持用户目标板的时钟输入和仿真头上的外部振荡晶体,并进行时钟有效性检查。
采用高速信号跟踪技术,真正支持ALE静态关闭或动态关闭,不限制对ALE信号的非常规切换。
自动感知6/12Clock时钟,并支持动态切换和静态切换,不限制用户对时钟信号的非常规切换。
所有仿真器入出口线100%保护,避免使用中误操作引起仿真器的损坏,保护用户投资。
带有硬件自检功能,方便用户判断仿真器工作异常的原因。
代码/数据空间支持1Byte精度的ReMap功能,支持冯诺曼Von Neumann结构。
支持运行全地址范围的仿真器外部代码仿真。
全资源On the fly操作, 全球首例最新专利技术
内部全部寄存器运行中可见。
内部数据区域运行中可见。
外部数据区域运行中可见。
5x512K断点运行中任意设置和取消。
数据性能分析运行中结果可见。
代码覆盖和数据覆盖运行中结果可见。
程序运行加彩轨迹运行中可见。
程序指针与源代码行运行中紧密关联。
SuperTrace超级跟踪, 全球首例最新专利技术
全球首个8051全范围SFR跟踪记录,更好的协助用户分析程序运行轨迹。
最大512KB超大容量实时Super Trace超级跟踪功能。
跟踪记录ACC / B / DPTR / SP等全部SFR。
跟踪记录内部4组R0-R8寄存器。
同时记录48-bit同步时间记录标签(Time Stamp),10ns精度。
同时记录程序地址指针PC。
8051代码/数据分组调试仿真支持
突破8051的64K代码数据限制,可仿真最大8分组64KB空间。
支持代码分组(Bank)调试, 最大8x64K。
支持数据分组(Bank)调试, 最大8x64K。
支持4路仿真器外部Bank控制信号输入。
支持无限制数量MCU内部Bank控制信号。
真正的IAP/ISP功能仿真支持
突破传统仿真技术缺陷, 真正实现内部Flash的IAP / ISP的仿真。
用户程序代码可自动/快速下载到MCU内部/外部Flash中, 并支持用户自定义Flash编程算法。
支持Flash代码用途的仿真, 包括代码运行和代码读取。
支持Flash数据用途的仿真, 包括读取和写入操作。
支持Flash本身操作的仿真, 包括扇区擦除, 全片擦除, 字节写等Flash操作。
ARM内核中无限制个数的Flash断点。
同步信号的输入/输出
1x路仿真监控信号输出, 可同步触发外部测试仪器, 如示波器和逻辑分析仪等。
1x路逻辑分析仪触发信号输出, 可同步触发外部测试仪器, 如示波器和逻辑分析仪等。
2x路外部同步信号输入, 可进行逻辑编程, 触发内部逻辑分析仪和停止仿真器模块运行。
内嵌多种专业分析工具, 协组改善程序结构, 优化代码性能
代码覆盖分析, 最大512KB容量, 运行中结果可见。
轨迹加彩显示, 最大512KB容量, 运行中结果可见。
数据覆盖分析, 最大512KB容量, 运行中结果可见。
代码性能分析, 最大512KB容量, 运行中结果可见。
数据性能分析, 最大512KB容量, 运行中结果可见。
代码运行跟踪, 最大512KB容量, 48-bit位同步时间记录和PC记录。
超级代码跟踪, 最大512KB容量, 48-bit位同步时间记录和PC记录, SFR和R0-R7记录。
复杂断点设计, 包括数据读写操作断点,地址范围判断断点,堆栈溢出断点等。
时间断点功能,最大600小时/10ns精度,方便用户特殊仿真要求。
真正专业的内嵌逻辑分析仪, zlgLogic全面支持
最大64路输入信号,200M采样速度,1MB存储深度。
创新的触发测量方式和和崭新的分析测量手段,令测量更加简单快捷。
可设置边缘/电平/总线等基本触发方式和高级复杂触发方式,方便易用。
人性化软件轻松完成信号测量、触发设置、动态帮助、软件升级等功能。
内部32路缺省仿真MCU信号, 参与显示和触发。
仿真模块和逻辑分析仪模块紧密关联, 可同时独立运行或停止。
多文档结构可让您在测量的同时观察和比较其他数据。
强大的数据导出功能支持对测量信号进行二次分析成为可能。
柔性频率设置突破传统的1、2、5进制,使得测量更加精确。
动态升级的硬件算法使您的测量手段与时并进。
高性能的ARM仿真技术
支持全系列ARM内核仿真,ARM7/ARM9/Cortex-M1/Cortex-M3等,包括Thumb模式。
支持Cortex-M1/Cortex-M3内核串行调试(SWD)模式。
USB2.0(High Speed)高速通讯接口,下载编程Flash速度达到1000KB/S。
支持片内Flash在线编程/调试,提供每种芯片对应的Flash编程算法文件。
支持片外Flash在线编程/调试,提供数百种常用的Flash器件编程算法文件。
支持NOR/NAND/SPI等多种接口类型的外部Flash编程/调试。
支持用户自行添加Flash编程算法文件。
具备单独烧写Flash的独立软件,提高生产效率。
支持无限制的RAM断点调试。
支持无限制的Flash断点调试,突破硬件断点数量的限制。
采用同步Flash技术,快速刷新Flash断点,速度如同RAM调试一样快捷。
支持动态断点,可在运行中任意设置/取消断点。
同时支持程序断点和数据断点,便于用户准确跟踪复杂程序的运行。
快速单步程序运行,最大150步/秒。
标准20-pin JTAG接口与目标板连接,支持热插拔。
检测所有JTAG信号和目标板电压。
自适应目标板电压,支持宽电压范围1.8V~5V。
JTAG最大时钟25MHz,可达到极限的调试速度。
自动速度识别功能。
支持实时RTCK同步时钟(自适应时钟)。
带有硬件自检功能,方便检测排除硬件故障。
保证最快最稳定的调试主频变化的目标系统。
内置特殊调试算法,可靠调试处于非法状态的ARM内核。
支持菊花链连接的多器件仿真。。
基于芯片的设计理念,为数百种芯片提供完善的初始化文件。
内置全面的初始化文件解释执行器,可在复位前后/运行前后/Flash下载前后进行灵活的系统设置,包括寄存器设置/ARM初始化/时钟设置/延时/信息提示等操作。